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  • NS200探針式膜層厚度表面粗糙度臺階儀
    NS200探針式膜層厚度表面粗糙度臺階儀

    NS系列探針式膜層厚度表面粗糙度臺階儀可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。樣品適應(yīng)面廣,對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

    時間:2024-07-17型號:NS200訪問量:291
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  • VT6100太陽能電池片形貌共聚焦測量顯微鏡
    VT6100太陽能電池片形貌共聚焦測量顯微鏡

    VT6000太陽能電池片形貌共聚焦測量顯微鏡結(jié)合精密縱向掃描,在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn),從而重建出3D真彩圖像進(jìn)行分析??蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時間:2024-07-23型號:VT6100訪問量:549
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  • NS200中圖儀器NS系列臺階厚度儀
    NS200中圖儀器NS系列臺階厚度儀

    中圖儀器NS系列臺階厚度儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀,其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點(diǎn)使得其在薄膜厚度的測量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢。

    時間:2024-07-23型號:NS200訪問量:342
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  • VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統(tǒng)
    VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統(tǒng)

    VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦光學(xué)系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成高精度測量系統(tǒng)。能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。

    時間:2024-07-23型號:VT6100訪問量:633
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  • NS200薄膜厚度臺階測量儀
    NS200薄膜厚度臺階測量儀

    中圖儀器NS系列薄膜厚度臺階測量儀集成了超低噪聲信號采集、超精細(xì)運(yùn)動控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。它主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。

    時間:2024-07-17型號:NS200訪問量:410
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  • SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀
    SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀

    中圖儀器SuperViewW納米級高精度白光干涉測厚儀的復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動掃描,重建其超光滑的表面區(qū)域,不見一絲重疊縫隙。

    時間:2024-06-14型號:SuperViewW1訪問量:447
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  • NS200接觸式臺階儀測膜厚儀
    NS200接觸式臺階儀測膜厚儀

    NS系列接觸式臺階儀測膜厚儀超精密接觸式測量微觀輪廓,主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準(zhǔn)確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

    時間:2024-07-17型號:NS200訪問量:414
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  • VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡
    VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡

    VT6000微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

    時間:2024-06-12型號:VT6100訪問量:392
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