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  • NS200國產(chǎn)臺(tái)階儀快速測量效率高
    NS200國產(chǎn)臺(tái)階儀快速測量效率高

    中圖儀器NS系列國產(chǎn)臺(tái)階儀快速測量效率高,集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。

    時(shí)間:2024-09-06型號(hào):NS200訪問量:524
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  • SuperViewW1白光干涉超精密工件表面3D形貌儀
    SuperViewW1白光干涉超精密工件表面3D形貌儀

    中圖儀器SuperViewW白光干涉超精密工件表面3D形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。

    時(shí)間:2024-09-04型號(hào):SuperViewW1訪問量:475
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  • NS200印刷電路板臺(tái)階高度測量儀
    NS200印刷電路板臺(tái)階高度測量儀

    NS200印刷電路板臺(tái)階高度測量儀具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。

    時(shí)間:2024-09-04型號(hào):NS200訪問量:497
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  • VT6100三維光學(xué)輪廓共聚焦材料顯微鏡
    VT6100三維光學(xué)輪廓共聚焦材料顯微鏡

    VT6000三維光學(xué)輪廓共聚焦材料顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量。測量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。

    時(shí)間:2024-09-02型號(hào):VT6100訪問量:465
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  • NS200國產(chǎn)薄膜臺(tái)階測量儀
    NS200國產(chǎn)薄膜臺(tái)階測量儀

    NS系列國產(chǎn)薄膜臺(tái)階測量儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。

    時(shí)間:2024-09-02型號(hào):NS200訪問量:423
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  • SuperViewW1白光干涉微觀形貌及粗糙度儀
    SuperViewW1白光干涉微觀形貌及粗糙度儀

    SuperViewW白光干涉微觀形貌及粗糙度儀測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

    時(shí)間:2024-08-27型號(hào):SuperViewW1訪問量:506
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  • NS200薄膜臺(tái)階測量儀
    NS200薄膜臺(tái)階測量儀

    NS系列薄膜臺(tái)階測量儀利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺(tái)階高度來計(jì)算出膜層的厚度,此外還可以用于表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。

    時(shí)間:2024-08-21型號(hào):NS200訪問量:443
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  • VT6100材料光學(xué)共聚焦顯微鏡
    VT6100材料光學(xué)共聚焦顯微鏡

    VT6000材料光學(xué)共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。

    時(shí)間:2024-08-21型號(hào):VT6100訪問量:466
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